长沙官网seo技术优化设计七年级下册语文答案

长沙官网seo技术,优化设计七年级下册语文答案,wordpress视频插件a vi,苏州模板做网站随着通信技术的不断发展#xff0c;光学器件与系统内部集成的组件数量显著增加#xff0c;系统结构日趋复杂。大量功能各异的光学组件不可避免地引入更高的插入损耗#xff0c;从而在复杂光路中对各段待测光路长度的精确测量提出了巨大挑战。此外#xff0c;通信波长的应用…随着通信技术的不断发展光学器件与系统内部集成的组件数量显著增加系统结构日趋复杂。大量功能各异的光学组件不可避免地引入更高的插入损耗从而在复杂光路中对各段待测光路长度的精确测量提出了巨大挑战。此外通信波长的应用范围不断扩展除常规的1310nm波段与1550nm波段外850nm、980nm、1064nm 等非常规波段的使用也日益广泛。面对这些特殊波段产品以及高插损耗光路系统如何利用常规通信波段的OFDR设备实现对其长度的精确测量已成为一个亟待解决的技术问题。一、OFDR技术测量长度的基本原理光频域反射OFDR技术是基于反射式的相干检测技术其基本测试示意图如下光频域反射技术原理示意图信号光自OFDR设备的输出端口发出经待测光链路传输后会实时产生后向反射光信号。该信号主要源于光纤中固有的瑞利散射效应——一种普遍存在且强度基本保持稳定的物理现象。该散射光被设备接收并解调后最终形成测试曲线。OFDR与OTDR同属反射式光强度检测技术但二者在信号调制与距离解调方式上存在差异·OTDR采用脉冲光通过时延信息解析距离探测距离在数十公里级空间分辨率在米级·OFDR使用扫频光源通过快速傅里叶变换将频率域信息映射为距离域结果探测距离一般在百米级空间分辨率可达十微米级。要实现精准长度测量需满足以下条件①待测长度位置在设备测量范围内②待测长度位置需要有高于瑞利散射强度的反射光反射峰返回进设备③待测长度标定点位置前端部分的插入损耗不宜过大二、测试案例850nm偏振控制器长度测量案例背景某客户需测量一款850nm波长的三环偏振控制器的整体光纤长度且不允许拆解样品。初步测试结果首先使用我司1550nm波段的OCI设备连接控制器输入端连接头测试曲线显示噪声台阶衰落明显末端APC连接头反射信号过弱无法识别反射峰。经功率计测量该控制器在1550nm波段的插入损耗大于50dB。测试结果如下所示改用我司1310nm波段的OCI设备测试结果类似仍无法检测到末端反射峰。功率计显示在1310nm波段损耗仍较大但低于1550nm波段。测试结果如下所示改进测量方法我们在偏振控制器末端再连接一个FC/APC转FC/UPC的跳线UPC端面反射较高根据菲涅尔垂直反射公式UPC端面对空气的反射理论在-14.8db左右再次使用1310nm波段的OCI设备测试结果显示UPC连接头端面出现明显反射峰见下图黄色游标通过两个游标的距离差值计算得到光链路整体长度为3.0927米单独再测量此跳线长度1.07米即可计算出偏振控制器的精确长度2.0227米。这种间接测量长度方法经常用于波段不匹配、链路损耗大等情况。对比验证使用同样的测试方式以1550nm波段的OCI设备进行测试由于该波段光在850nm样品中衰减过大即使增加反射强度仍无法检测到反射峰无法完成长度标定。测试结果如下所示三、案例总结无论是波段不匹配还是光链路插入损耗过大其核心原因仍然是光损耗。在测量此类样品时可以增加待测点位置的反射强度如加PC头、反射镜或镀增反膜等也可减小样品损耗。总而言之需要提高从待测点位置回来并进入设备内部的光信号强度使之高于噪声水平此时才能通过反射峰标定待测位置并计算链路精确长度。